特点：  
★升温速度可精确控制，精度达±0.25℃  
★体积小巧，占地空间小  
★无噪声、无振动、体积小、重量轻  
★支持与各类显微镜、光谱仪等光学仪器设备  
★模块化设计，可根据客户要求定制  
★无需液氮制冷耗材  
核心特点  
高精度：采用高分辨率光学显微镜和精密机械平台（精度可达微米级），确保探针与微小电极的精准对准。  
模块化设计：支持多种选配模块，如温控系统（-70°C至300°C）、真空环境、射频（RF）探针、光电测试组件等，满足多样化测试需求。  
多探针支持：可配置单针、多针或阵列探针，适应直流（DC）、高频（HF）或微波测试。  
兼容性强：适配不同尺寸晶圆（2英寸至12英寸）及封装器件，支持自动化集成（如与SMU、示波器、网络分析仪等设备联动）。  
用途：  
半导体冷热探针台测试仪，用于芯片、气敏元器件等在不同气氛环境下电学性能，也可用变温光学测试、变温电学测试、材料表征等分析。广泛应用于半导体电学性能测试、物理研究、气敏分析、锂电池测试、LED、LCD、二维材料测试、电镜扫描、太阳能电池等行业的制造和研究领等系统中的重要部件。  
探针台  
http://www.jmant.cn/ParentList-2570532.html  
https://www.chem17.com/st648276/product_39083054.html