特点：  
★升温速度可精确控制，精度达±0.25℃  
★体积小巧，占地空间小  
★无噪声、无振动、体积小、重量轻  
★支持与各类显微镜、光谱仪等光学仪器设备  
★模块化设计，可根据客户要求定制  
★无需液氮制冷耗材  
典型应用  
半导体测试：IC、MEMS、功率器件等的IV/CV特性分析。  
光电测试：LED、激光器、光电探测器的光电响应测量。  
材料研究：新型半导体材料（如GaN、SiC）的载流子迁移率、电阻率表征。  
失效分析：晶圆缺陷或封装器件的电气故障点。  
技术优势  
稳定性：抗振动设计及防静电措施，保障高重复性测试。  
灵活性：手动、半自动或全自动机型可选，适应实验室与产线场景。  
智能化：搭配专业软件（如LabVIEW或定制化系统），实现数据采集与分析自动化。  
用途：  
半导体冷热探针台测试仪，用于芯片、气敏元器件等在不同气氛环境下电学性能，也可用变温光学测试、变温电学测试、材料表征等分析。广泛应用于半导体电学性能测试、物理研究、气敏分析、锂电池测试、LED、LCD、二维材料测试、电镜扫描、太阳能电池等行业的制造和研究领等系统中的重要部件。  
冷热台  
http://www.jmant.cn/ParentList-2570532.html  
https://www.chem17.com/st648276/product_39083054.html