英国KP开尔文探针扫描-半导体表征  
开尔文探针扫描系统包括：  
□单点开尔文探针(大气环境及气氛控制环境)；  
□扫描开尔文探针(大气环境及气氛控制环境)；  
□超真空(UHV)开尔文探针；  
□湿度控制的腐蚀开尔文探针；  
英国KP开尔文探针扫描-半导体表征  
系统配置  
这是一款可以被大多数客户所接收的扫描开尔文探针系统，它是在ASKP基础之上包括了彩色相机/TFT显示器、2毫米和50微米探针、外部数字示波镜等配置，其规格如下：  
□2毫米，50微米探针；  
□功函数分辨率1-3meV(2毫米针尖)，5-10meV(50微米针尖)；  
□针尖到样品表面高度可以达到400纳米以内；  
□表面势和样品形貌3维地图；  
□探针扫描或样品扫描选配；  
□彩色相机、调焦镜头、TFT显示器和专业的光学固定装置；  
□参考样品(带相应的扫描开尔文探针系统的形貌)；  
□备用的针尖放大器；  
□24个月超长质保期；  
英国KP  
http://www.airtest.net.cn/Products-31156705.html  
https://www.chem17.com/st17159/product_31156705.html