冷热冲击试验箱周期稳定
用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的理想测试工具。
详情介绍
冷热冲击试验箱周期稳定
执行与满足标准
1、GB/T2423.1-1989低温试验方法；
2、GB/T2423.2-1989高温试验方法；
3、GB/T2423.22-1989温度变化试验；
4、GJB150.5-86温度冲击试验；
5、GJB360.7-87温度冲击试验；
6、GJB367.2-87 405温度冲击试验。
7、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式
8、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式
9、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化
10、GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则
11、GB/T 2423.22-2002温度变化
12、QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则
13、EIA 364-32热冲击（温度循环）测试程序的电连接器和插座的环境影响评估
冷热冲击试验箱周期稳定
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