泽攸台阶仪是一款高性能的表面形貌检测设备，其核心工作原理是利用一个尖锐的探针在样品表面进行扫描，然后根据探针在垂直（Z）方向上的位移变化，配合精确的横向扫描与位置控制，最终重建出样品表面的三维形状。

泽攸台阶仪具有高精度、高分辨率、高稳定性和高灵活性等特点。其采用了大行程超精密平面扫描技术，能够实现70mm的扫描范围，优于20nm/2mm的精度。同时，配备了两个彩色摄像头，能够无畸变地观察样品区和针尖区，实时显示扫描过程。此外，泽攸台阶仪还采用了一体花岗岩结构，提供了稳定可靠的重复性测量，并采用了大带宽大行程纳米微动台和超微压力恒定控制技术，能够实现80um的位移范围，10kHZ的响应频率，0.5mN-15mN的压力控制。

泽攸台阶仪在半导体行业有着广泛的应用，可以用于制程优化与控制、薄膜材料表征与质量控制等方面。通过精确测量台阶高度、线粗糙度、薄膜曲率半径等参数，能够迅速响应工艺条件的变化，帮助制造商优化制程，提高产品的稳定性和一致性。同时，泽攸台阶仪还可以用于测量氧化层、抗蚀剂等材料的台阶高度，从而评估材料的性能和选择合适的材料。

总的来说，泽攸台阶仪是一款先进的表面形貌检测设备，具有高精度、高分辨率、高稳定性和高灵活性等特点，在半导体行业等领域具有广泛的应用前景。

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