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进店逛逛EXFO CTP10元器件测试平台
插损（IL）和回损（RL）测量
单次扫描的动态范围为70 dB，速度为1000 nm/s
可安装多达10个热插拔模块
可支持60个检测器，每个检测器的工作速度为1 Msps
配备强大、直观的GUI，便于配置测试和分析测量结果
更新时间：2020-02-29 18:43 免费会员
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