品牌：牛津仪器

加工定制：否

型号：X-Strata920

类型：镀层

测量范围：0-30um mm

利用X射线荧光（XRF）进行镀层厚度测量和材料分析，提高过程和质量控制。

X-Strata是结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备，提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。它在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。

镀层测厚仪X-Strata系列提供：

无损分析：无需样品制备

经行业认证的技术和可靠性，确保每年都带来收益

操作简单，只需要简单的培训

分析只需三步骤

杰出的分析准确性和精确性

在镀层测厚领域拥有超过20年的丰富经验

使用功能强大、操作简单的X射线荧光光谱仪进行镀层厚度测量，保证质量的同时降低成本。

产品优势

高性能、高精度、长期稳定性

快速精确的分析带来生产成本*优化

优化的性能可满足广泛的元素测量

坚固耐用的设计

可靠近生产线或在实验室操作

生产人员易于使用

简单的校准调试

在没有标准片时，经验系数法或基本参数法可以提供简单可靠的定量结果

方法建立只需几分钟

我们提供认证标准片以确保*佳精确度（A2LA 和 ISO/IEC17025）

预置了多种校准参数

可分析多种样品形状和尺寸

可分析多种样品类型，从微小的电子元件到浴室配件

提供多种硬件供选配，满足各种需要

行业及市场

电子行业-有效控制生产过程，提高生产力

分析电子件上的金和钯的厚度，例如Au/Ni/Cu，Au/Pd/Ni/Cu

测量线路板上的可焊性，比如Ag/Cu/Epoxy

五金电镀行业-电镀表面处理的成本*小化，产量*大化

多样品和多点分析

单层或多层厚度测量

镀液成份分析

贵金属/金属合金-珠宝及其他合金的快速无损分析

黄金分析及其他元素测定

贵金属合金检测

一致性检测-确保产品符合规格

测定有害物质从ppm级到高百分比级

有毒元素定量分析，例如检测镉、汞、铅等含量是否符合规定

按照IEC62321进行RoHS筛选

对航空焊料可靠性鉴定进行高可靠检测

新能源行业- 确保产品有效一致

光电池薄膜吸收层（如CIS, CIGS, CdTe）的成份分析

通过镀层厚度分析优化导电性

镀层测厚仪-X-Strata系列

X-Strata920 – 性价比高，无损可靠

一款操作简单的质量控制分析仪，满足镀层厚度测量和材料分析。

新型号设计

快速分析（几秒）1-4层镀层厚度

多款规格，例如标准样品台、加深样品台或自动程控样品台，满足所有样品类型

开槽式样品舱可检测大面积样品，例如印制线路板等

符合ISO3487和ASTM B568检测方法

X-Strata980 – 灵活、多元素、无损的材料分析

一款全面强大的X射线荧光分析仪，能够检测各种大小的样品

快速、精确分析固体、液体和粉末

程控台的大样品舱方便样品摆放和测量（可选）

集成电脑节省了台式仪器的空间

高分辨率检测器使检测下限降到*低

应用广泛，包括光电池、RoHS有害元素筛选和贵金属分析

X-Strata920 - 三种配置选项

X-Strata920 - 三种配置满足您的需要：

固定样品台

开槽式样品舱允许检测从小部件到大型平板样品等各种样品，如印制线路板。样品的尺寸可以超出仪器宽度

经济、实用

平面样品台设计，适合高度不超过1.3"(33mm)的样品分析

加深样品台

高度每英寸(25.4mm)可调，架构式样品舱可容纳*大高度6.3"(160mm)的样品

可以选4个样品盘中任一个来盛放不同高度的样品

开槽式样品舱允许检测从小部件到大型平板样品等各种样品，如印制线路板。样品的尺寸可以超出仪器宽度

程控样品台

用于自动化测量

方便根据测试位置放置样品，并精准定位测量点

开槽式样品舱允许检测大型平板样品，如印制线路板

样品台尺寸：22"(D) x 24"(w)，即560mm (深) x 610mm (宽)