品牌:上海百银
发货:7天内
BingSR-034W
0.85 mm 钨丝内导体半刚性同轴电缆
50 Ω 高频测试探针线|面向射频探针、半导体测试与微波模块研发
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为需要稳定阻抗、紧凑布线与位置保持能力的高频互连而设计。 BingSR-034W 采用 1/0.203 mm 白钨丝(HW61)中心导体、PTFE 绝缘及无缝紫铜管外导体。它尤其适合探针接触点、测试夹具和微波模块内的定型布线,在小尺寸空间内帮助维持更稳定的几何位置与 50 Ω 阻抗一致性。 |
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50 Ω ±1 Ω 阻抗控制 面向对信号一致性要求较高的射频、微波测试与研发链路。 |
钨丝芯,更稳定 高刚性中心导体有助于减少探针端或定型段的几何漂移。 |
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0.85 ±0.025 mm 紧凑外径 适合空间受限的测试夹具、模块内部与精密电子结构。 |
半刚性铜管外导体 提供稳定的同轴回流路径,适用于完成成形后的固定布线。 |
适合“完成一次成形后固定”的精密高频互连,而非高循环动态弯折用途。
与普通铜芯小同轴线相比,钨丝中心导体的价值不在于替代柔性线缆,而在于提升局部定型段、外露端或探针接口附近的机械稳定性。对于需要保持探针位置、减小安装后形变、并兼顾 50 Ω 传输的一体化测试互连,BingSR-034W 是更具针对性的选择。
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使用提示:半刚性同轴电缆适合一次或少量次数的成形与固定安装;不建议作为反复摆动、持续拖链或高循环弯折场景的动态连接线。 |
关键技术参数
以下数据用于产品选型与网页展示;最终以经双方确认的规格、图纸或样品检测结果为准。
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项目 |
BingSR-034W 规格 |
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产品型号 |
BingSR-034W |
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产品类型 |
钨丝内导体半刚性同轴电缆 |
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特性阻抗 |
50 Ω ±1 Ω |
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中心导体 |
1/0.203 mm 白钨丝(HW61) |
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绝缘材料 |
PTFE |
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外导体 |
无缝紫铜管(无镀层) |
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电缆外径 |
0.85 ±0.025 mm |
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建议应用 |
高频 / 射频 / 微波测试;探针、夹具与模块内定型互连 |
钨丝内导体带来的差异
把“结构稳定性”转化为测试场景中的可用价值。
· 更适合位置敏感的测试结构:在探针台、测试夹具或模块内部,钨丝芯有助于保持预设走线形态。
· 有助于降低安装后的几何变化:对于需要精确控制外露段、焊接点或探针接触位置的应用,稳定的中心导体更具价值。
· 小尺寸与阻抗控制兼顾:0.85 mm 外径与 50 Ω ±1 Ω 指标,可用于空间紧凑的高频信号链路。
· 适合固定式精密互连:无缝紫铜管外导体与 PTFE 绝缘构成稳定的同轴结构,适用于完成成形后的模块内或夹具内安装。
典型应用
聚焦射频、微波与半导体测试中的精密短距离传输。
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RF 探针测试 用于探针接口附近的短距离 50 Ω 信号引出与定型连接。 |
半导体测试夹具 适用于 wafer test、test socket、封装验证及测试治具内部布线。 |
微波模块研发 用于滤波器、放大器、混频器、天线馈线等模块内高频互连。 |
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实验室测量系统 适用于设备内部、模块间或小型测试平台中的稳定信号传输。 |
精密电子装配 适用于安装空间小、线路要求高的高频电子结构。 |
研发验证样机 适合工程试制、小批量验证与结构/电性能迭代。 |
供货与定制支持
让样品验证、结构确认与批量导入更直接。
BingSR-034W 可用于研发样品、项目验证和批量供货。针对不同的高频测试结构,我们可根据线缆长度、端接形式、外露端要求及测试频段协助确认更匹配的交付方案。
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可提供 · 小批量样品与研发验证用线 · 按长度裁切与包装方案确认 · 批量生产与一致性控制 · 端接及组件化需求的技术评估 |
询价时建议提供 · 目标频率范围与关键性能要求 · 成品长度、数量及交付形态 · 是否需要固定端接、接口型号或外露长度 · 是否存在空间、弯折、磁性或环境限制 |
常见问题
帮助用户在网页浏览阶段快速判断是否匹配。
Q 为什么选择钨丝内导体?
A 钨丝芯的核心价值是刚性、耐形变和位置保持能力,适合探针、夹具和模块内的定型结构。它不是为了替代柔性同轴线,而是面向“稳定几何形态”的高频互连。
Q 这款线缆可以反复弯折吗?
A 不建议。BingSR-034W 属于半刚性同轴结构,适合一次或少量次数的成形后固定。对于高频动态弯折,请选择柔性微同轴或专用高柔性 RF 电缆。
Q 能否用于高频损耗或驻波要求明确的项目?
A 可以根据目标频率、长度、端接方式及测试方法进一步确认。建议在项目阶段明确需要的插入损耗、VSWR、屏蔽或耐压指标。
