光学仪器
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偏光片光轴测试仪光学膜PLM系列
更新时间:2023-03-29 14:53 免费会员
苏州千宇光学科技有限公司
  • 描述相符

    4.9
  • 服务态度

    4.9
  • 发货速度

    4.9
  • 关注人数

    27
  • 产品详情
  • 规格参数
  • 联系方式
测试原理
偏振/相位测量
1、测试对象:
1、测试对象:偏光片、相位差膜、光学膜。
2、测试功能包括:
2.1:测试功能包括:可测试补偿膜的波长分散性、面内补偿值
Re、厚度方向补偿值 Rth、光轴方向、预倾角 Beta;偏光片的
透过率(单体、平行、直交)、偏光度,色度(
L a,b)等。
2.2:贴合角/多层测试:除可测试补偿膜+Pol 结构的补偿偏光
片的贴合角度及补偿膜的补偿值之外,还可测试补偿膜 1+Pol+
补偿膜 2 结构的 2 个贴合角度。测试贴合角度时,对样品放置要
求比较低。
2.3:偏光片:吸收轴角度测试,透过轴角度测试
3、各项参数
3.1 测试光斑:约 3mm
3.2 轴角度测试范围:0~180°
3.3 光轴角度精度(相对于标准片):±0.1°
(重复性精度±0.05°3sigema
3.4 吸收轴测试精度:±0.01°
3.5 相位差测量重复性:0.2nm
3sigema)(实测 0.1nm 以内)
3.6 正面位相差读数分辨率为 0.01nm产品名称
相位差/轴
角 度 测 试
产品型号
PLM-100P
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3、各项参数
3.7 RTH 厚度位相差精度:±1nm
3sigema
3.8 贴合角度重复性精度≤0.05°
3.9 测试波长范围:400nm to 800nm
3.10 测试波长最小间隔: 1nm
3.11 补偿值测试范围: 0nm to 20000nm
3.12 旋转角度(方位角) :0 to 360°或者-180°~+180°
3.13 输出数据:可以 400nm~800nm 全波段输出数据
4、光谱仪参数
4.1 波长精度:±0.2nm
4.2 光谱杂散光:<0.05%(
400nm)
4.3 信噪比:2000:1
5、其他
5.1 样品尺寸:约 6 寸
5.2 仪器构成:本体+PC
5.3 本体尺寸:500mm500mm1800mm(站立型)
5.4 保修时间:1 年
5.5 增值服务:新功能免费更新
5.6 货期:2.5 个月
6、注意事项
6.1 由于此设备搭载多波段光谱仪,对于测试极少数特殊偏光片
的吸收轴角度时候,会与本公司另外专门的吸收轴角度测试仪存
在固定的公差,此种情况下,可免费寄样到本公司测试出公差值。
6.2 针对不带雾度及散射的样品,在测试透过率,偏光度等参数
时,可直接测得绝对值;在测试带雾度及散射的样品时候,由于
结构上无法追加积分球,测得的透过率,偏光度等参数为相对值,
可根据其他仪器(例如分光光度计)去提取公差
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