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进店逛逛QFN52-0.4翻盖弹片测试座/老化座
产品简介
产品用途:编程座、测试座，对QFN52的IC芯片进行老化、测试
适用封装:QFN52引脚间距0.4mm
测试座:QFN52-0.4
特点:采用U型顶针，接触更稳定
规格尺寸
型号:QFN52-0.4
引脚间距(mm):0.4
脚位:52
适配芯片尺寸: 7*7mm
更新时间：2019-12-19 15:42 免费会员
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QFN52-0.4翻盖弹片测试座/老化座
产品简介
产品用途:编程座、测试座，对QFN52的IC芯片进行老化、测试
适用封装:QFN52引脚间距0.4mm
测试座:QFN52-0.4
特点:采用U型顶针，接触更稳定
规格尺寸
型号:QFN52-0.4
引脚间距(mm):0.4
脚位:52
适配芯片尺寸: 7*7mm